Ионно - измельчительная система CleanMill

Традиционный метод механического шлифования готовит сечение образца, неизбежное механическое повреждение и загрязнение, вызванное включением абразива в образец. Образцы, вырезанные с помощью аргонового ионного пучка, могут быть сглажены без механических повреждений и поверхностного загрязнения и хорошо подходят для подготовки образцов профилей материалов и компонентов батареи для сканирования структуры электронного микроскопа. Компания Thermo Scientific CleanMillTM предлагает превосходную схему измельчения аргонового ионного пучка для образцов профиля батареи, позволяющую проводить SEM - визуализацию и анализ характеристик чувствительных к электронному лучу материалов и материалов, чувствительных к воздуху.

Система измельчения сечения аргонового ионного пучка Thermo Scientific CleanMillTM (BIB - CP) предназначена для обеспечения высококачественной и эффективной подготовки образцов для точного представления. Его стандартный источник ионов сверхвысокой энергии 16 кВ обладает большей способностью к распылению и более высокой эффективностью шлифования при гарантированной массе шлифования. В то же время низкоэнергетические ионные источники могут обеспечивать неразрушающее точное сбрасывание и очистку образцов с тонкой структурой и уязвимостью к облучению ионным пучком.

Многие материалы и компоненты аккумуляторов обладают характеристиками чувствительности к электронному лучу и воздуху. Thermo Scientific CleanMillTM совместим с CleanConnectTM, что позволяет оптимизировать рабочие процессы Thermo Scientific IGST. Система переноса проб CleanConnect предлагает набор ультраэкономичных интегрированных решений, позволяющих быстро перемещать образцы в хранилище электронных микроскопов в инертном газе / вакууме. Это решение вакуумной блокировки использует стандартный стенд для образцов диаметром до 25 мм, что значительно упрощает передачу различных образцов в системе SEM / DualBeam. Образец может быть загружен в бардачке в хранилище образцов CleanConnect, а затем передан в CleanConnect для подготовки профиля. Затем образцы профилей, подготовленные в CleanMill, были перенесены с помощью CleanConnect в Thermo Scientific SEM для микроструктурирования. На протяжении всего процесса образец находился в состоянии защиты от инертного газа для обеспечения целостности его сечения. Этот рабочий процесс значительно упрощает передачу образцов, повышает скорость получения результатов и обеспечивает структурную характеристику чувствительных к воздуху материалов в их истинном состоянии.

Ключевые преимущества

• Высокоэнергетическая ионная пушка обеспечивает быстрое шлифование и полировку

• Подготовка образцов сечения с использованием специального стенда для проб 90°

• Автоматизация настройки параметров и операций, обеспечивающих вращение и качание образцов

• Возможность подготовки образцов для чувствительных к воздуху материалов, что позволяет усовершенствовать рабочий процесс передачи образцов инертного газа Symerfei (IGST)

• Камера CMOS с высоким разрешением и сенсорный экран для наблюдения за процессом измельчения образцов в режиме реального времени

• Низкоэнергетическая ионная пушка может быть выбрана для неразрушающего сбрасывания и очистки образцов с тонкой структурой и уязвимостью к облучению.

• Возможность выбора холодильного стола для автоматической заправки жидким азотом при замораживании и измельчении чувствительных к электронному лучу образцов

Thermo Scientific CleanMill совместим с CleanConnect и полным набором рабочих процессов IGST для проведения анализа характеристик чувствительных к воздуху материалов в их истинном состоянии.

Технические параметры

Отбор ионной пушки

Стандартная ионная пушка сверхвысокой энергии, непрерывно регулируемое напряжение ускорения

• 2 - 16 кВ

• Диапазон токов ионного пучка: 20 - 500 А

• Скорость разбрызгивания: > 500 м / ч

• Выбор малоэнергетической ионной пушки

• Ускорительное напряжение: 100 эВ - 2 кВ

• Автоматизированные настройки источника ионов

Система формирования изображений

Камера CMOS с высоким разрешением с фиксированным усилением X10, цифровое усиление которой обеспечивает непрерывный вызов X120

Стол для образцов

Наклон образца: от 0° до 180°, вращение инкрементного образца 0,1°: вращение на 360° внутри поверхности

Колебание образца: внутренняя качка, от ±1° до ±180°, 1° / шаг

Тип образца и допустимый размер

Стандартный поддон для полировки поверхности

• Поддерживает совместимые образцы размером 30 мм x 15 мм с CleanConnect:

• Полировка поверхности

Размер несущего образца: 28 мм x 3 мм.

o Взаимный образец может нести размер образца 20,5 мм x 8,5 мм

• Полировка сечения

o 90° Топор образцов: несущий размер образца 10 мм (длина) x 10 мм (ширина) x 3 мм (высота)

Вакуумная система

• Безмасляные диафрагменные насосы и турбомольные молекулярные насосы с вакуумметром (Пирани / Паннинг)

Система газоснабжения

• Аргон (чистота 99,999%)

• Высокоточная система управления расходом газа

Компьютерная система управления

• Простой в использовании графический пользовательский интерфейс с сенсорным экраном (Touch GUI)

Настройка системы

Параметры измельчения

O Операционный контроль

GUI Touch использует Windows 11

Дополнительные аксессуары

• Установка для охлаждения жидкого азота с автоматическим наполнением, обеспечивающая непрерывное замораживание и размораживание

• Устройства для определения местоположения образцов

• Прочие запасные части и расходные части

• Порты для перчаток, которые могут загружать CleanConnect

Гарантии и профессиональная подготовка

• Гарантия на 1 год

• Упрощенный дизайн, просто простое обучение

• Руководство пользователя, содержащее инструкции по использованию

Требования к установке

• зарезервировать порт установки (другие приложения не могут использовать этот порт)

• Окружающая среда: те же требования, что и к обычному микроскопу, см. Руководство по предварительной установке

• На правой стороне прибора должно быть достаточно места для использования переключателя CleanConnect.

• Размер системы: 70 см (ширина) x 70 см (глубина) x 61 см (высокая)

Отрезание катодной пластины NMC, изготовленное CleanMill с использованием изображений Apreo 2S